小兒腦癱這種疾病大家應該都聽說過，也都知道這種疾病對患者身體的傷害是非常大的，當孩子患病后，給孩子帶來的危害特別的大，在生活中我們一定要了解相關(guān)知識，下面讓我們一起來看一看該病的發(fā)病原因有哪些：
一、誘發(fā)小兒腦癱的病因包括那幾方面的：
一.遺傳因素
一、 遺傳因素：近年來的研究認為，遺傳因素在小兒腦癱中影響越來越重要，如近親有癲癇、腦癱及智能低下中的2種因素者占腦癱的65%。還有就是染色體異常。
2.母體因素：母親智力低下是腦癱最主要的危險因素，占腦癱的2.7‰。其次的危險因素是母親分娩過程障礙。母親患癲癇、孕前患甲亢，或有兩次以上死胎者與腦癱明顯相關(guān)。
二、分娩因素 2.妊娠期因素
(1)母體遭受感染：母體在胚兒期遭受風疹、巨細胞病毒、弓形體病、梅毒、單純皰疹病毒、EB病毒等感染通過胎盤侵及胎兒產(chǎn)生先天性感染與畸形。
(2)妊娠時的環(huán)境因素：胚胎在母體子宮內(nèi)發(fā)育時，極易受外界環(huán)境因素如物理、化學或生物因子的影響，尤其對8周以內(nèi)的胚胎更為敏感，引起胚胎的分化發(fā)育障礙，產(chǎn)生先天性畸形。
1.物理因素
最常見的物理性致畸因子有射線、機械因素、高溫、嚴寒、微波、缺氧等。
a.射線
X線和放射性同位素的α、β、γ射線對人胚神經(jīng)系統(tǒng)發(fā)育有致畸作用，當小于3個月的胎兒受輻照的劑量超過25cGy時，可增加胎兒畸形或死亡的危險。
b.高溫
高溫對早期胚胎神經(jīng)系統(tǒng)發(fā)育有致畸作用。當受精后20～28天期間，孕婦如發(fā)燒至39℃以上時，胎兒容易出現(xiàn)后頭部腦疝畸形，而在妊娠4～14周時孕婦接觸高溫后，胎兒出生后可出現(xiàn)精神呆滯，肌張力低下等中樞神經(jīng)系統(tǒng)損害。
2.化學因素
許多藥物和環(huán)境污染物對胎兒發(fā)育有致畸作用。這和藥物的性質(zhì)、毒性、劑量、給藥方式、作用時間等有關(guān)，也和胚胎月齡有關(guān)。致畸藥物的種類繁多，常見的有：抗腫瘤藥、抗凝血藥、有機汞、酒精等。
(3)母體患慢性疾�。喝焉锲诘牡脱跹Y、營養(yǎng)障礙，是直接或間接導致腦性癱瘓的原因。如妊娠高血壓綜合征、心力衰竭、大出血、休克、重度貧血、胎盤異常、糖尿病、肺結(jié)核、慢性肝炎、慢性腎炎等。
三、出生后因素：早產(chǎn)與低出生體重：腦癱是早產(chǎn)兒中最常見的一種損傷。
以上內(nèi)容就是有關(guān)于小兒腦癱的發(fā)病原因的相關(guān)知識介紹，家長朋友們一定要多多的了解一下，希望可以給您帶來幫助，在生活中我們一定要重視起來，當孩子患病之后，家長朋友不要過于擔心，一定要及時治療，并且加強護理。
